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如何使用涡流测厚仪精确的测量

文字:[大][中][小] 手机页面二维码 2017/6/20     浏览次数:    

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  涡流测厚仪

涡流法是根据涡流原理测量导电基体上的非导电涂层的厚度,其测量数值受以下一些因素的影响:

首次使用仪器或在不同性质(材质、厚度、曲率、表面粗糙度)的基体上进行测量时应重新对仪器进行零点校准,当校准使用的基体与待测试件基体性质偏差较大时,测量值将会产生偏差。

a)  使用仪器附送的基体对仪器进行零点校准,

b)  将仪器附送的标准试片放置在基体上,对其进行测量,观察测量数值
是否符合仪器精度的要求;

c)  如果测量数值偏差较大,超出仪器精度的要求,则可参照3.3.4对仪器
进行基本校准;

d)  如果测头磨损很严重,重新进行基本校准后仍然无法满足测量精度的
要求,则需要更换测头。

a基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器

进行校准。

b基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1

c边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

d曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

e试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上不能测出可靠的数据。

f表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位


置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪

的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。

g磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。

h附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

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